Tagungsüberblick

Special Topic »Surface meets Light«

5. – 7. September 2016

Die Arbeitstagung »Angewandte Oberflächenanalytik« (AOFA) ist nun bereits seit über 30 Jahren ein wichtiges und etabliertes Forum für alle Entwickler, Betreiber und Nutzer von modernen Oberflächenanalyseverfahren. Ziel der Arbeitstagung ist es, den Informationsaustausch zwischen Entwicklern, Betreibern und Nutzern der Oberflächenanalytik zu ermöglichen. Daher stehen anwendungsorientierte Themen im Vordergrund.

Das wissenschaftliche Programm soll dem Erfahrungs- und Informationsaustausch über die Anwendungen physikalischer Verfahren zur Oberflächen-, Schicht- und Tiefenprofilanalyse dienen. Es soll aktuelle Problemstellungen deutlich machen sowie neue Entwicklungen in diesen Bereichen darstellen und anregen. Auf der Tagung werden Fortschrittsberichte von Analytikern, Werkstoffwissenschaftlern, Festkörperphysikern und -chemikern sowie Technologen analytisch-methodische Entwicklungen und wissenschaftlich-technologische Problemlösungen präsentiert.

Dem Motto »Surface meets Light« wird eine eigene Sitzung gewidmet, in der ausschließlich Methoden der optischen Oberflächenanalytik wie beispielsweise Fluoreszenz-, Infrarot- oder Raman-Spektroskopie im Mittelpunkt stehen sollen.

• Analyse der Oberflächen- und Grenzflächeneigenschaften von Werkstoffen (Metalle, anorganische und organische Halbleiter, Gläser, Keramiken, Polymere, magnetische Materialien, Biowerkstoffe)
• Chemische Reaktionen an Oberflächen und inneren Grenzflächen (Adsorption, Korrosion, Oxidation, Katalyse)
• Teilchentransport an Festkörperoberflächen und dünnen Schichten (Diffusion, Segregation)
• Charakterisierung und Kontrolle von Dünnschichtsystemen
• Oberflächen- und Tiefenprofilanalyse an Isolatoren (Gläser, Keramiken, Polymere)
• Strukturbestimmung im oberflächennahen Bereich
• Mikro- und Nanobereichsanalyse (abbildende Analysen, Tiefenprofilanalyse)
• Spurenanalyse
• Neue verfahrens- und gerätetechnische Entwicklungen
• Quantifizierung von Messsignalen
• Schadensanalysen
• Neue Einsatzmöglichkeiten von oberflächenanalytischen Methoden